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少子壽命測試儀

高頻光電導少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準(F28-75)及國家標準GB/T1553-1997設計制造。

  • 產(chǎn)品型號:LT-1ρ≥3Ω
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-09-01
  • 訪  問  量:1025
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詳細介紹

高頻光電導少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準(F28-75)及國家標準GB/T1553-1997設計制造,廣泛應用于工廠的常規(guī)測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。

少子壽命測試儀配置:

光脈沖發(fā)生裝置(重復頻率>25次/s    脈寬≥60μs           光脈沖關斷時間<5μs
紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量硅單晶) 脈沖電源:5A~20A)
高頻源(頻率:30MHz        低輸出阻抗            輸出功率>1W)
放大器和檢波器(頻率響應:3Hz~1MHz)
配用示波器(配用示波器:頻帶寬度不低于10MHz    Y軸增益及掃描速度均應連續(xù)可調(diào)
如測量鍺單晶壽命需另行配置適當波長的光源)
壽命測試范圍:10~6000μs
主機外形尺寸:W470×D365×H155
總重量:12Kg
電源:~220V  50Hz    功耗<50W

 

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